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SEMINAR
講習會
講習會一覽
對于半導體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點和作用
● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀，測試膜厚、折射率n、消光系數k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。
展會名稱 對于半導體前工序的多種需求 大塚膜厚儀的特點和作用
展會時間 2025/4/24 15:00~16:00
舉辦展館 蘇州線上講習會

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