導航
信息摘要：
大塚電子（蘇州）有限公司
展位號：2B29
作為世界500強企業(yè)之一的大冢集團，其旗下日本大塚電子集團的子公司大塚電子（蘇州）有限公司以“多樣性”、“創(chuàng)新性”和“全球化”作為基本方針，并融合了自公司成立以來積累的核心技術，為用于光學特性測試的測量儀器、分析儀器提供從銷售到售后的全面服務支持，包括偏光片測試儀、位相差測試儀、液晶Cellgap測試儀、ColorFilter色度機、膜厚測試儀、透過率測試儀、反射率測試儀、納米粒度儀等，可以滿足納米技術、高分子化學、新材料、食品、半導體和醫(yī)藥等諸多領域從研發(fā)到質量管理各方面的需求，擁有精度高、測試快、操作簡便、市場占有率高、客戶群體廣的特點及優(yōu)勢。
01、顯微分光膜厚儀
產品介紹：
非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統內；
初學者也能輕松解析建模的初學者解析模式；
高精度、高再現性量測紫外到近紅外波段內的絕對反射率，可分析多層薄膜厚度、光學常數（n：折射率、k：消光系數）；
單點對焦加量測在1秒內完成；
顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外 ~ 近紅外）；
獨立測試頭對應各種inline定制化需求；
最小對應spot約3μm；
獨家專利可針對超薄膜解析nk。
02、相位差測量裝置
產品介紹：
測量項目（薄膜、光學材料）相位差（波長分散）、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等；
測量項目（偏光片）吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等；
測量項目（液晶cell）cell gap、預傾角*1 、扭曲角、配向角等；
位相差測量范圍0～60,000nm。
IFTE 2025
IFTE 2025國際(上海)薄膜與膠帶技術及應用創(chuàng)新展,致力于向高附加值應用行業(yè)展示薄膜與膠帶及涂布模切領域的創(chuàng)新解決方案,并促進了上下游企業(yè)高效鏈接,挖掘潛在商機,推動產業(yè)可持續(xù)發(fā)展。為薄膜與膠帶企業(yè)打造精準高效的供需對接與技術交流平臺。本屆展會將于2025年8月7-9日在上海新國際博覽中心舉辦,同期舉辦DIC EXPO國際(上海)顯示技術及應用創(chuàng)新展。展會預計將吸引300余家參展商及品牌集中展示前沿技術產品及應用解決方案,聚焦功能膜材、膠粘新材、模切涂布等領域。
